岗位职责
根据芯片规格书和测试需求，设计并开发ATE（自动化测试设备）测试程序，确保芯片在研发和量产阶段的质量与性能达标。
优化测试流程和测试项，提升测试覆盖率与效率，降低测试成本；优化测试TTR（测试时间）并解决量产良率问题。
分析测试数据，定位故障模式（Failure Mode），并与设计、工艺、产品工程团队协作解决问题。
参与ATE测试平台建设，负责硬件选型（Probe Card / Load Board / Socket）及与OSAT厂商的测试环境部署；协同DFT团队制定可行性评估与测试方案。
开发自动化数据分析与处理工具，支持失效分析（RMA / HTOL / CHAR验证），并持续优化测试成本与覆盖率。
维护和升级现有测试程序，处理量产中出现的测试异常问题，构建标准化Test Library模块。
编写和维护测试相关文档，包括测试规范、流程说明和调试记录。
参与新产品导入（NPI）流程，支持从工程样品到量产的测试开发与导入工作。
任职要求
本科及以上学历，电子工程、微电子、通信、自动化或相关专业。
3年以上ATE测试程序开发或芯片验证经验，熟悉CP/FT测试流程。
熟悉主流ATE平台（Advantest V93000 / Teradyne UltraFlex等）及相关编程语言（C/C++、Python等）。
理解半导体测试原理（数字、模拟、混合信号等）及相关硬件接口。
有数据分析经验，能使用Python、STDF解析工具等进行测试数据处理与优化。
具备良好的问题分析能力、团队协作与跨部门沟通能力。
软性能力
有新产品导入（NPI）到量产的全流程经验。
熟悉DFT、BIST等设计与测试协同技术。
有OSAT厂商协作经验。
英文技术文档阅读与沟通能力良好。